一、高低溫沖擊試驗箱簡介：

  冷熱沖擊試驗箱廣泛應用于航空航天、電子電工、儀器儀表、汽車、通訊、集成電路、半導體等領域，可發(fā)現產品潛在缺陷，做應力篩選試驗，提高產品的可靠性和進行產品質量控制。

二、高低溫沖擊試驗箱廠家特點：

1、對于冷熱沖擊測試來說，一些國際標準（MIL-STD，IEC，DIN等）要求在溫度循環(huán)時有短暫的調節(jié)為常溫的步驟，本試驗箱是專為滿足這些國際標準而設計的。

2、試料槽*靜止，可由測試孔外加負載配線。

3、蓄熱方式可避免使用職業(yè)傷害。（注：液態(tài)氣體所產生發(fā)氣，吸入肺部致使肺部氧氣量減少，而產生工作倦怠，集中力降低）。

4、冷熱沖擊箱采用觸控式彩色液晶顯示人機界面控制器，操作簡單、學習容易。

5、溫度控制精度高，全部采用PID自動演算 控制。

6、可選擇始動位置，高溫或低溫開始循環(huán)。

7、具有預約起動功能。

8、可設定循環(huán)次數及自動除霜。

9、試驗箱分為高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū)三部份，各區(qū)箱體采用*的隔熱結構，測試時可選擇二槽（兩箱法）或三槽（三箱法）沖擊試驗。

10、可設定循環(huán)次數及除霜次數自動（手動）除霜。運轉中狀態(tài)顯示及曲線，異常及故障點顯示說明及排除方法。

11、有異常或故障顯示及排除方法說明。

12、歐美原裝高效率復疊壓縮冷凍機組，運轉噪音低，省能源之設備。

三、冷熱沖擊試驗機執(zhí)行標準：

1. GJB150.5A-2009溫度沖擊試驗

2. GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗

3. GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產品環(huán)境試驗

第2部分:試驗方法溫度變化試驗導則

4. GJB360B-2009溫度沖擊試驗

5. GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗A：低溫

6.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2：2007 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫

7.GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術條件

8.GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術條件

四、高低溫沖擊試驗箱廠家技術參數：