一、高低溫試驗(yàn)機(jī)簡(jiǎn)介:

  可程式高低溫試驗(yàn)機(jī)廣泛適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、車輛、金屬、電子產(chǎn)品、各種電子元?dú)饧诟叩蜏丨h(huán)境下、檢驗(yàn)其各性能項(xiàng)指標(biāo)及質(zhì)量管理之用。

二、高低溫試驗(yàn)機(jī)技術(shù)參數(shù)

三、上海高低溫試驗(yàn)箱箱體結(jié)構(gòu)：

可使用的程序量:最大120組,1個(gè)程序可由1~99段次組合而成

可使用的記憶容量: 1200段 ，可重復(fù)執(zhí)行命令:每一個(gè)命令可達(dá)999次，程序斜率設(shè)定可由時(shí)間軸來(lái)設(shè)定，程序間可設(shè)定聯(lián)結(jié)使用，程序之制作采對(duì)談式操作簡(jiǎn)單

具有編輯,清除,插入等功能，4組時(shí)間信號(hào)輸出控制(可控制待測(cè)物ON/OFF動(dòng)作)

具有9組PID參數(shù)設(shè)定，程序執(zhí)行中具有跳段,保持功能，可顯示曲線,資料獲取；日期、時(shí)間調(diào)整功能；按鍵及畫面鎖定(LOCK)功能，可連接計(jì)算機(jī)使用，8點(diǎn)DI異常輸入及10點(diǎn)DO信號(hào)控制

四、上海高低溫試驗(yàn)箱執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 10586 -2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)
GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則
GJB 150.3A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分：高溫試驗(yàn)
GJB 150.4A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分：低溫試驗(yàn)
GJB 150.9A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第9部分：濕熱試驗(yàn)